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6433D/F/H/L光波元件分析仪
◎ 频率范围：
10MHz ~20GHz (6433D)； 10MHz ~ 43.5GHz (6433F)；
10MHz ~50GHz (6433H)； 10MHz ~ 67GHz (6433L)；
10MHz ~ 110GHz (6433P)
◎ 工作波长：
1310nm / 1550nm ±20nm
◎ 相对频率响应精度：
±0.7dB@20GHz; ±1.6dB@50GHz;
±2.2dB@67GHz; ±2.7dB@110GHz.
◎ 频率响应重复性：
±0.3dB@26.5GHz; ±0.8dB@43.5GHz;
±1.0dB@50GHz; ±1.1dB@67GHz;
±1.4dB@110GHz
◎ 中频分析带宽：1Hz
◎ 电通道数：2、4端口可选
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￥0.00￥0.00
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◎ 频率范围：
10MHz ~20GHz (6433D)； 10MHz ~ 43.5GHz (6433F)；
10MHz ~50GHz (6433H)； 10MHz ~ 67GHz (6433L)；
10MHz ~ 110GHz (6433P)
◎ 工作波长：
1310nm / 1550nm ±20nm
◎ 相对频率响应精度：
±0.7dB@20GHz; ±1.6dB@50GHz;
±2.2dB@67GHz; ±2.7dB@110GHz.
◎ 频率响应重复性：
±0.3dB@26.5GHz; ±0.8dB@43.5GHz;
±1.0dB@50GHz; ±1.1dB@67GHz;
±1.4dB@110GHz
◎ 中频分析带宽：1Hz
◎ 电通道数：2、4端口可选
产品综述
6433系列光波元件分析仪包括6433D（10MHz～20GHz）、6433F（10MHz～43.5GHz）、6433H（10MHz～50GHz）、6433L（10MHz～67GHz）4个型号 .
6433系列光波元件分析仪是面向高速电光（E/O）器件、光电（O/E）器件、光光（O/O）器件特性测试的解决方案 , 调制频率范围覆盖10MHz~67GHz , 支持不同频率范围、频率间隔、中频带宽的设置 , 最小频率分辨率达到1Hz .
6433系列采用一体集成的设计方案 , 通过宽带硬件优化设计 , 构建网络误差模型 , 利用核心校准算法 , 实现一键式宽带快速扫频测试 , 主要用于现代高速光传输系统中核心的电光器件（电光调制器、直接调制激光器、光发射组件）、光电器件（PIN 光电探测器、APD光电探测器、光接收组件）、光光器件（光纤滤波器等光无源器件）的带宽、幅频响应、相频响应、群时延等参数测试 .
主要特点
▶校准方便快捷，向导式操作流程
▶一体化多功能操作界面
▶大动态测量范围，测量轨迹噪声小
▶用户数据自动移除，为在片测试提供扩展使用
▶单端-平衡光电器件模式测量
▶多功能化工具箱
▶内、外部光源波长设定，更宽的通信波长测试范围
功能特点
校准方便快捷，向导式操作流程 6433系列光波元件分析仪在校准方面具有清晰的操作流程，主要包括电校准和光路参数校准，通过采用向导式操作提示为用户提供快速高精度校准。 | |
| 一体化多功能操作界面 6433系列光波元件分析仪具备了电电、电光、光电、光光四种测量模式，四种光电校准模式，功能模式之间可任意切换，满足目前绝大多数通用器件的S参数、阻抗、时域等参数测量需求。 |
一体化多功能操作界面 6433系列光波元件分析仪具备了电电、电光、光电、光光四种测量模式，四种光电校准模式，功能模式之间可任意切换，满足目前绝大多数通用器件的S参数、阻抗、时域等参数测量需求。 |
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| 用户数据自动移除，为在片测试提供扩展使用 通过用户自定数据或夹具去嵌入数据提升测量精度，尤其在片测试时所需的探针误差移除时，使得测量更加灵活，满足用户不同场合的测量需求。 |
单端-平衡光电器件模式测量 仪器可通过选用不同的配置，满足单端-单端和单端-平衡的光发射或光接收器件或组件对差分增益和共模抑制参数的测试需求，更加贴合现有和未来高速光纤通信领域中多端口参数的测量场合。 |
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| 单端-平衡光电器件模式测量 仪器可通过选用不同的配置，满足单端-单端和单端-平衡的光发射或光接收器件或组件对差分增益和共模抑制参数的测试需求，更加贴合现有和未来高速光纤通信领域中多端口参数的测量场合。 |
内、外部光源波长设定，更宽的通信波长测试范围 测试不仅局限于1310nm/1550nm，支持1260nm~1610nm的外部光源输入，覆盖更宽的通信波长，满足CWDM、DWDM系统核心器件测量需求。 | |
技术范围
| 光波元件分析仪 |
指标 | 6433D | 6433F | 6433H | 6433L |
| 调制频率范围 | 10MHz~ 20GHz | 10MHz~ 43.5GHz | 10MHz~ 50GHz | 10MHz~ 67GHz |
| 频率准确度 | ±1 x 10-7 | ±1 x 10-7 | ±1 x 10-7 | ±1 x 10-7 |
| 频率分辨率 | 1Hz | 1Hz | 1Hz | 1Hz |
| 工作波长 | 1310±20nm ; 1550±20nm | |||
| 平均输出光功率范围 | -2dBm ~ 4 dBm | -2dBm ~ 4 dBm(1310nm) -1dBm ~ 5 dBm(1550nm) | -2dBm ~ 4 dBm(1310nm) -1dBm ~ 5 dBm(1550nm) | -2dBm ~ 4 dBm(1310nm) -1dBm ~ 5 dBm(1550nm) |
| 最大安全平均输入功率 | 输入1:7dBm 输入2:17dBm | 输入1:7dBm 输入2:17dBm | 输入1:7dBm 输入2:17dBm | 输入1:7dBm 输入2:17dBm |
| 平均输出光功率精度 | ±0.5dB | ±0.5dB | ±0.5dB | ±0.5dB |
| 平均输入光功率测量范围 | -35dBm ~ 5 dBm | -35dBm ~ 5 dBm | -35dBm ~ 5 dBm | -35dBm ~ 5 dBm |
| 平均输入光功率测量精度 | ±0.5dB | ±0.5dB | ±0.5dB | ±0.5dB |
| 相对频率响应精度 | ±0.7dB | ±1.6dB | ±1.6dB | ±2.2dB |
| 绝对频率响应精度 | ±1.8dB | ±2.0dB | ±2.5dB | ±2.7dB |
| 频率响应重复性 | ±0.3dB | ±0.8dB | ±1.0dB | ±1.1dB |
| 群时延测量精度 | ±13ps | ±18ps | ±18ps | ±31ps |
| 相位测量精度 | ±3.5° | ±4.2° | ±4.2° | ±6.0° |
| 最大重量(kg) | 63kg | 63kg | 63kg | 63kg |
| 外观尺寸（W*H*D） | (426±2)mm x (400±2)mm x (600±2)mm (不含底脚/ 把手) | |||
| 最大功耗 | 600W | |||
主机型号
| 序号 | 型号 | 描述 |
| 1 | 6433D | 光波元件分析仪 ， 频率范围10MHz ~ 20GHz |
| 2 | 6433F | 光波元件分析仪 ， 频率范围10MHz ~ 43.5GHz |
| 3 | 6433H | 光波元件分析仪 ， 频率范围10MHz ~ 50GHz |
| 4 | 6433L | 光波元件分析仪 ， 频率范围10MHz ~ 67GHz |
标配附件
| 序号 | 名称 | 数量 | 说明 |
| 1 | 电源线组件 | 2 | 6433D/F/H/L, 电源线2根 |
| 2 | 用户手册 | 1 | / |
| 3 | 产品合格证 | 1 | / |
| 4 | 计量级光纤 跳线 | 1 | / |
| 5 | USB 线缆 | 1 | 6433D/F/H/L, USB线缆1根 |
选件型号
| 6433D 选件 | |||
| 序号 | 选件编号 | 选件名称 | 功能 |
| 1 | 6433D-003 | 噪声系数测量 | 用于S参数、噪声系数和噪声参数的精确测量， 二端口必选6433D-201 + 6433D-204 四端口必选6433D-401 + 6433D-404 |
| 2 | 6433D-008 | 脉冲测量 | 用于脉冲状态下S参数测量 |
| 3 | 6433D-012 | 多功能光波分析装置 | 频率范围：10MHz~20GHz，用于对光波的光电/电光模块测试的数据校验 |
| 4 | 6433D-023 | 混频器矢量测量功能 | 用于混频器矢量参数测量， 二端口必选6433D-204 + 6433D-S20， 四端口必选6433D-404 + 6433D-S20 |
| 5 | 6433D-201 | 二端口程控步进衰减器 | 配置源通路2个70dB程控步进衰减器， 接收机通路2个35dB程控步进衰减器，必选6433D-204 |
| 6 | 6433D-204 | 二端口可配置测试装置 | 对二端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线， 可独立使用A、B、R1、R2接收机 |
| 7 | 6433D-205 | 二端口T型偏置器 | 内部配置2个T型偏置器，用于端口输出直流偏置电压， 必选6433D-201 + 6433D-204，与6433D-203 不可同时选配 |
| 8 | 6433D-400 | 四端口测量 | 双源激励四端口光波元件分析仪配置，频率范围10MHz ～20GHz |
| 9 | 6433D-401 | 四端口程控步进衰减器 | 配置源通路4个70dB程控步进衰减器， 接收机通路4个35dB程控步进衰减器,必选6433D-400 + 6433D-404 |
| 10 | 6433D-402 | 有源互调失真测量 | 用于有源互调失真信号测量,必选6433D-400 + 6433D-404 + 6433D-S20 |
| 11 | 6433D-404 | 四端口可配置测试装置 | 对四端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线， 可独立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收机，必选6433D-400 |
| 12 | 6433D-405 | 四端口T型偏置器 | 内部配置4个T型偏置器用于端口输出直流偏置电压， 必选6433D-400 + 6433D-401 + 6433D-404，与6433D-403不可同时选配 |
| 13 | 6433D-S05 | S参数信号完整性分析功能 | 用于分析系统的频域、时域TDR 和串扰等信号完整性特性， 可自动将图形曲线转换成测试报告 |
| 14 | 6433D-S07 | 自动夹具移除功能 | 用于单端及平衡器件测量夹具自动测试及移除 |
| 15 | 6433D-S10 | 时域测量功能 | 用于时域测量，可确定器件、夹具或电缆中不连续位置并进行分析 |
| 16 | 6433D-S11 | 高级时域分析功能 | 用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等，购买6433D-S11赠送6433D-S10 |
| 17 | 6433D-S16 | 真实差分测量功能 | 用于真实差模、共模激励平衡参数测量, 必选6433D-400 + 6433D-404 + 6433D-S28 |
| 18 | 6433D-S18 | 快速连续波扫描功能 | 使用FIFO 缓冲法，即时读取数据 |
| 19 | 6433D-S20 | 频偏测量功能 | 用于频率偏移测量 |
| 20 | 6433D-S22 | 混频器标量测量功能 | 用于混频器标量参数测量，必选6433D-S20 |
| 21 | 6433D-S24 | 嵌入式本振变频器测量功能 | 用于内嵌本振变频器测量， 二端口必选6433D-204 + 6433D-S20, 四端口必选6433D-404 + 6433D-S20，必选6433D-S22或6433D-023 |
| 22 | 6433D-S26 | 增益压缩测量功能 | 用于放大器等有源器件的增益压缩测量 |
| 23 | 6433D-S28 | 相位扫描测量功能 | 用于相位扫描测量，必选6433D-400 |
| 24 | 6433D-S30 | 频谱分析功能 | 用于提供多通道频谱测试功能 |
| 25 | 6433D-EWT1 | 保修期以外延长保修1年 | 保修期以外延长保修1年，2年延保可选2项， 以此类推，服务不含校准，仅含单程货品运费 |
| 6433F 选件 | |||
| 序号 | 选件编号 | 选件名称 | 功能 |
| 1 | 6433F-003 | 噪声系数测量 | 用于S参数、噪声系数和噪声参数的精确测量， 二端口必选6433F-201 + 6433F-204， 四端口必选6433F-401 + 6433F-404 |
| 2 | 6433F-008 | 脉冲测量 | 用于脉冲状态下S参数测量 |
| 3 | 6433F-011 | OE标准件 | 频率范围:10MHz～44GHz,用于对光电测试模块的数据校验 |
| 4 | 6433F-012 | 多功能光波分析装置 | 频率范围：10MHz~44GHz，用于对光波的光电/电光模块测试的数据校验 |
| 5 | 6433F-023 | 混频器矢量测量功能 | 用于混频器矢量参数测量， 二端口必选6433F-204 + 6433F-S20， 四端口必选6433F-404 + 6433F-S20 |
| 6 | 6433F-201 | 二端口程控步进衰减器 | 配置源通路2个60dB程控步进衰减器， 接收机通路2个35dB程控步进衰减器,必选6433F-204 |
| 7 | 6433F-204 | 二端口可配置测试装置 | 对二端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线， 可独立使用A、B、R1、R2 接收机 |
| 8 | 6433F-205 | 二端口T型偏置器 | 内部配置2个T型偏置器，用于端口输出直流偏置电压， 必选6433F-201 + 6433F-204，与6433F-203不可同时选配 |
| 9 | 6433F-400 | 四端口测量 | 双源激励四端口光波元件分析仪配置，频率范围10MHz ～44GHz |
| 10 | 6433F-401 | 四端口程控步进衰减器 | 配置源通路4个60dB程控步进衰减器， 接收机通路4个35dB程控步进衰减器,必选6433F-400 + 6433F-404。 |
| 11 | 6433F-402 | 有源互调失真测量 | 用于有源互调失真信号测量,必选6433F-400 + 6433F-404 + 6433F-S20。 |
| 12 | 6433F-404 | 四端口可配置测试装置 | 对四端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线， 可独立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收机，必选6433F-400 |
| 13 | 6433F-405 | 四端口T型偏置器 | 内部配置4个T型偏置器用于端口输出直流偏置电压， 必选6433F-400 + 6433F-401 + 6433F-404，与6433F-403不可同时选配 |
| 14 | 6433F-S05 | S参数信号完整性分析功能 | 用于分析系统的频域、时域TDR 和串扰等信号完整性特性， 可自动将图形曲线转换成测试报告 |
| 15 | 6433F-S07 | 自动夹具移除功能 | 用于单端及平衡器件测量夹具自动测试及移除 |
| 16 | 6433F-S10 | 时域测量功能 | 用于时域测量，可确定器件、夹具或电缆中不连续位置并进行分析 |
| 17 | 6433F-S11 | 高级时域分析功能 | 用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等，购买6433F-S11赠送6433F-S10 |
| 18 | 6433F-S16 | 真实差分测量功能 | 用于真实差模、共模激励平衡参数测量, 必选6433F-400 + 6433F-404 + 6433F-S28 |
| 19 | 6433F-S18 | 快速连续波扫描功能 | 使用FIFO 缓冲法，即时读取数据 |
| 20 | 6433F-S20 | 频偏测量功能 | 用于频率偏移测量 |
| 21 | 6433F-S22 | 混频器标量测量功能 | 用于混频器标量参数测量，必选6433F-S20 |
| 22 | 6433F-S24 | 嵌入式本振变频器测量功能 | 用于内嵌本振变频器测量， 二端口必选6433F-204 + 6433F-S20, 四端口必选6433F-404 + 6433F-S20，必选6433F-S22或6433F-023 |
| 23 | 6433F-S26 | 增益压缩测量功能 | 用于放大器等有源器件的增益压缩测量 |
| 24 | 6433F-S28 | 相位扫描测量功能 | 用于相位扫描测量，必选6433F-400 |
| 25 | 6433F-S30 | 频谱分析功能 | 用于提供多通道频谱测试功能 |
| 26 | 6433F-EWT1 | 保修期以外延长保修1年 | 保修期以外延长保修1年，2年延保可选2项， 以此类推，服务不含校准，仅含单程货品运费 |
| 6433H 选件 | |||
| 序号 | 选件编号 | 选件名称 | 功能 |
| 1 | 6433H-003 | 噪声系数测量 | 用于S参数、噪声系数和噪声参数的精确测量， 二端口必选6433H-201 + 6433H-204 四端口必选6433H-401 + 6433H-404 |
| 2 | 6433H-008 | 脉冲测量 | 用于脉冲状态下S参数测量 |
| 3 | 6433H-011 | OE标准件 | 频率范围:10MHz～50GHz,用于对光电测试模块的数据校验 |
| 4 | 6433H-012 | 多功能光波分析装置 | 频率范围：10MHz~50GHz，用于对光波的光电/电光模块测试的数据校验 |
| 5 | 6433H-023 | 混频器矢量测量功能 | 用于混频器矢量参数测量， 二端口必选6433H-204+6433H-S20， 四端口必选6433H-404+6433H-S20 |
| 6 | 6433H-201 | 二端口程控步进衰减器 | 配置源通路2个60dB程控步进衰减器， 接收机通路2个35dB程控步进衰减器,必选6433H-204 |
| 7 | 6433H-204 | 二端口可配置测试装置 | 对二端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线， 可独立使用A、B、R1、R2 接收机 |
| 8 | 6433H-205 | 二端口T型偏置器 | 内部配置2个T型偏置器，用于端口输出直流偏置电压， 必选6433H-201 + 6433H-204，与6433H-203 不可同时选配 |
| 9 | 6433H-400 | 四端口测量 | 双源激励四端口光波元件分析仪配置，频率范围10MHz ～50GHz |
| 10 | 6433H-401 | 四端口程控步进衰减器 | 配置源通路4个60dB程控步进衰减器， 接收机通路4个35dB程控步进衰减器,必选6433H-400 + 6433H-404。 |
| 11 | 6433H-402 | 有源互调失真测量 | 用于有源互调失真信号测量,必选6433H-400 + 6433H-404 + 6433H-S20。 |
| 12 | 6433H-404 | 四端口可配置测试装置 | 对四端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线， 可独立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收机，必选6433H-400 |
| 13 | 6433H-405 | 四端口T型偏置器 | 内部配置4个T型偏置器, 用于端口输出直流偏置电压， 必选6433H-400 + 6433H-401 + 6433H-404，与6433H-403不可同时选配 |
| 14 | 6433H-S05 | S参数信号完整性分析功能 | 用于分析系统的频域、时域TDR 和串扰等信号完整性特性， 可自动将图形曲线转换成测试报告 |
| 15 | 6433H-S07 | 自动夹具移除功能 | 用于单端及平衡器件测量夹具自动测试及移除 |
| 16 | 6433H-S10 | 时域测量功能 | 用于时域测量，可确定器件、夹具或电缆中不连续位置并进行分析 |
| 17 | 6433H-S11 | 高级时域分析功能 | 用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等，购买6433H-S11赠送6433H-S10 |
| 18 | 6433H-S16 | 真实差分测量功能 | 用于真实差模、共模激励平衡参数测量, 必选6433H-400 + 6433H-404 + 6433H-S28 |
| 19 | 6433H-S18 | 快速连续波扫描功能 | 使用FIFO 缓冲法，即时读取数据 |
| 20 | 6433H-S20 | 频偏测量功能 | 用于频率偏移测量 |
| 21 | 6433H-S22 | 混频器标量测量功能 | 用于混频器标量参数测量，必选6433H-S20 |
| 22 | 6433H-S24 | 嵌入式本振变频器测量功能 | 用于内嵌本振变频器测量， 二端口必选6433H-204 + 6433H-S20, 四端口必选6433H-404 + 6433H-S20，必选6433H-S22或6433H-023 |
| 23 | 6433H-S26 | 增益压缩测量功能 | 用于放大器等有源器件的增益压缩测量 |
| 24 | 6433H-S28 | 相位扫描测量功能 | 用于相位扫描测量，必选6433H-400 |
| 25 | 6433H-S30 | 频谱分析功能 | 用于提供多通道频谱测试功能 |
| 26 | 6433H-EWT1 | 保修期以外延长保修1年 | 保修期以外延长保修1年，2年延保可选2项， 以此类推，服务不含校准，仅含单程货品运费 |
| 6433L 选件 | |||
| 序号 | 选件编号 | 选件名称 | 功能 |
| 1 | 6433L-008 | 脉冲测量 | 用于脉冲状态下S参数测量 |
| 2 | 6433L-011 | OE标准件 | 频率范围:10MHz～67GHz,用于对光电测试模块的数据校验 |
| 3 | 6433L-012 | 多功能光波分析装置 | 频率范围：10MHz~67GHz，用于对光波的光电/电光模块测试的数据校验 |
| 4 | 6433L-023 | 混频器矢量测量功能 | 用于混频器矢量参数测量， 二端口必选6433L-204 + 6433L-S20， 四端口必选6433L-404 + 6433L-S20 |
| 5 | 6433L-201 | 二端口程控步进衰减器 | 配置源通路2个50dB程控步进衰减器， 接收机通路2个50dB程控步进衰减器,必选6433L - 204 |
| 6 | 6433L-204 | 二端口可配置测试装置 | 对二端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线， 可独立使用A、B、R1、R2 接收机 |
| 7 | 6433L-205 | 二端口T型偏置器 | 内部配置2个T型偏置器，用于端口输出直流偏置电压， 必选6433L-201 + 6433L-204 |
| 8 | 6433L-400 | 四端口测量 | 双源激励四端口光波元件分析仪配置，频率范围10MHz ～67GHz |
| 9 | 6433L-401 | 四端口程控步进衰减器 | 配置源通路4个60dB程控步进衰减器， 接收机通路4个35dB程控步进衰减器,必选6433L-400 + 6433L-404。 |
| 10 | 6433L-402 | 有源互调失真测量 | 用于有源互调失真信号测量,必选6433F-400 + 6433F-404 + 6433L-S20。 |
| 11 | 6433L-404 | 四端口可配置测试装置 | 对四端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线， 可独立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收机，必选6433L-400 |
| 12 | 6433L-405 | 四端口T型偏置器 | 内部配置4个T型偏置器用于端口输出直流偏置电压， 必选6433L-400 + 6433L-401 + 6433L-404，与6433L-404不可同时选配 |
| 13 | 6433L-S05 | S参数信号完整性分析功能 | 用于分析系统的频域、时域TDR 和串扰等信号完整性特性， 可自动将图形曲线转换成测试报告 |
| 14 | 6433L-S07 | 自动夹具移除功能 | 用于单端及平衡器件测量夹具自动测试及移除 |
| 15 | 6433L-S10 | 时域测量功能 | 用于时域测量，可确定器件、夹具或电缆中不连续位置并进行分析 |
| 16 | 6433L-S11 | 高级时域分析功能 | 用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等，购买6433L-S11赠送6433L-S10 |
| 17 | 6433L-S16 | 真实差分测量功能 | 用于真实差模、共模激励平衡参数测量, 必选6433L-400 + 6433L-404 + 6433L-S28 |
| 18 | 6433L-S18 | 快速连续波扫描功能 | 使用FIFO 缓冲法，即时读取数据 |
| 19 | 6433L-S20 | 频偏测量功能 | 用于频率偏移测量 |
| 20 | 6433L-S22 | 混频器标量测量功能 | 用于混频器标量参数测量，必选6433L-S20 |
| 21 | 6433L-S24 | 嵌入式本振变频器测量功能 | 用于内嵌本振变频器测量， 二端口必选6433L-204 + 6433L-S20, 四端口必选6433L-404 + 6433L-S20，必选6433L-S22或6433L-023 |
| 22 | 6433L-S26 | 增益压缩测量功能 | 用于放大器等有源器件的增益压缩测量 |
| 23 | 6433L-S28 | 相位扫描测量功能 | 用于相位扫描测量，必选6433L-400 |
| 24 | 6433L-S30 | 频谱分析功能 | 用于提供多通道频谱测试功能 |
| 25 | 6433L-EWT1 | 保修期以外延长保修1年 | 保修期以外延长保修1年，2年延保可选2项， 以此类推，服务不含校准，仅含单程货品运费 |
