
◎ 频率范围:10MHz~110GHz
◎ 工作波长:1310nm / 1550nm ±20nm
◎ 中频分析带宽:1Hz
◎ 电通道数:2、4端口可选
◎ 频率范围:10MHz~110GHz
◎ 工作波长:1310nm / 1550nm ±20nm
◎ 中频分析带宽:1Hz
◎ 电通道数:2、4端口可选
产品综述
6433P光波元件分析仪是面向高速电光器件、光电器件及光光器件调制特性测试的仪器,频率范围覆盖10MHz~110GHz,集成电电测试、电光测试、光电测试及光光测试4种测试模式,具有对数/线性幅度、相位、群时延、Smith圆图、极坐标等多种显示格式,能够精确测量光电网络的幅/相频特性,主要应用于高速电光器件(电光强度调制器、直接调制激光器、光发射组件)、光电器件(探测器、光发射组件、探测器芯片)及光光器件(光衰减器、EDFA)的带宽、幅/相频、群时延等频响参数的测试。
主要特点
▶10MHz~110GHz 宽频带同轴覆盖
▶最小频率分辨率1Hz
▶测试功能丰富 , 具备传输、反射等多种参数测试功能
▶一体化多功能测试界面
▶向导式校准及一键式快速扫频测试
▶多窗口显示及快速分析
▶自动夹具移除 , 快速获取探针数据;具有USB、LAN等接口和SCPI程控指令集,可实现自动测试
功能特点
10MHz~110GHz 宽频带同轴覆盖 6433P光波元件分析仪调制频率最高可达 110GHz , 最小频率分辨率为 1Hz , 可实现高速宽频带光器件及光芯片调制特性测试 . | |
| 一体化多功能测试向导界面 6433P 光波元件分析仪具备电电、电光、光电、光光四种测量模式 , 功能模式之间可任意切换 , 可满足光器件的 S 参数、阻抗、时域等参数测量需求 . 一体化多功能界面方便用户快速完成测量模式、光波参数、光路去嵌入参数、射频去嵌入等参数的设置 . |
向导式校准及一键式测试 6433P光波元件分析仪进行微波域的电电校准及光波域的光路校准时,采用向导式校准,方便用户对仪器进行快速校准,获得被测件准确的测试结果。同时采用一体化集成设计方案,利用核心算法,实现电光/光电/光光器件一键式宽带快速扫频测试。 | |
| 多窗口快速显示及分析 6433P光波元件分析仪最多支持64个测量通道 , 32个测量窗口 , 每个窗口最多可同时显示16条测试轨迹 , 可实现结果的多窗口、多格式显示 . 高分辨率多点触控电容屏可快速实现各种输入和选择操作 , 快捷高效 , 便于用户快速分析数据 , 为用户提供全新的光波元件分析仪操作体验 . |
自动夹具移除,快速获取探针数据 6433P光波元件分析仪利用自动夹具移除功能可快速解决光芯片S参数测试难题。测试时,将高频探针等效为夹具,通过自动夹具移除功能测量高频探针的时域参数,利用信号流图提取频域参数,形成s2p文件,进而通过射频去嵌入,实现光芯片的高精度S参数测试。 |
|
技术范围
指标 | 6433P光波元件分析仪 |
| 调制频率范围 | 10MHz ~ 110GHz |
| 频率准确度 | ±1 x 10-7 |
| 频率分辨率 | 1Hz |
| 工作波长 | 1310±20nm ; 1550±20nm |
| 平均输出光功率范围 | -2dBm ~ 3 dBm (1310nm) -1dBm ~ 5 dBm (1550nm) |
| 最大安全平均输入功率 | 7dBm |
| 平均输出光功率精度 | ±0.5dB |
| 平均输入光功率测量范围 | -35dBm ~ 5 dBm |
| 平均输入光功率测量精度 | ±0.5dB |
| 相对频率响应精度 | ±2.7dB |
| 频率响应重复性 | ±1.4dB |
| 最大重量(kg) | 80kg |
| 外观尺寸(W*H*D) | 仪器主机(475±2)mm x (525±2)mm x (660±2)mm (不含底脚/ 把手); 扩展模块(97±2)mm x (73±2)mm x (236±2)mm (不含底脚/ 把手) ; 光电模块(97±2)mm x (81±2)mm x (215±2)mm (不含底脚/ 把手) |
| 最大功耗 | 600W |
主机型号
| 序号 | 型号 | 描述 |
| 1 | 6433P | 光波元件分析仪 , 频率范围10MHz ~ 110GHz , 必选6433 - 009 、6433 - 011 及 6433P - S20 . |
标配附件
| 序号 | 名称 | 数量 | 说明 |
| 1 | 电源线组件 | 3 | 6433P, 电源线3根 |
| 2 | 用户手册 | 1 | / |
| 3 | 产品合格证 | 1 | / |
| 4 | 计量级光纤 跳线 | 1 | / |
| 5 | USB 线缆 | 2 | 6433P, USB线缆2根 |
选件型号
| 6433P 选件 | |||
| 序号 | 选件编号 | 选件名称 | 功能 |
| 1 | 6433-009 | 二端口扩频控制机 | 配合6433P使用,用于矢量网络分析仪频率扩展,实现二端口矢量网络分析仪扩展功能 |
| 2 | 6433-010 | 四端口扩频控制机 | 配合6433P使用,用于矢量网络分析仪频率扩展,实现四端口矢量网络分析仪扩展功能 |
| 3 | 6433-011 | 110GHz同轴扩展组件 | 用于矢量网络分析仪频率扩展,实现10MHz~110GHz同轴S参数测量; 二端口需要配置2个模块,四端口需要配置4个模块; 二端口必选6433-009+6433P-S20,四端口必选6433-010+6433P-S20+6433P-400 |
| 4 | 6433P-023 | 混频器矢量测量功能 | 用于混频器矢量参数测量,必选6433P-204/6433P-404+6433P-S20 |
| 5 | 6433P-201 | 二端口程控步进衰减器 | 配置源通路2个70dB程控步进衰减器,接收机通路2个35dB程控步进衰减器,必选6433P-204 |
| 6 | 6433P-204 | 二端口可配置测试装置 | 对二端口机型的测试装置进行扩展,增加面板跳线,可独立使用A、B、R1、R2 接收机 |
| 7 | 6433P-400 | 四端口测量选件 | 电通道为4端口,选配6433-010四端口扩频控制机、4个6433-011 110GHz同轴扩展组件及6433P-S20 频偏测量功能,实现平衡测试 |
| 8 | 6433P-401 | 四端口程控步进衰减器 | 配置源通路4个70dB 程控步进衰减器,接收机通路4个35dB程控步进衰减器,必选6433P-400+6433P-404 |
| 9 | 6433P-402 | 有源互调失真测量 | 用于有源互调失真信号测量,必选6433P-400+6433P-404+6433P-S20 |
| 10 | 6433P-404 | 四端口可配置测试装置 | 对四端口机型的测试装置进行扩展,增加面板跳线,可独立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收机,必选6433P-400 |
| 11 | 6433P-008 | 脉冲测量 | 用于脉冲状态下S参数测量 |
| 12 | 6433P-203 | 二端口低端扩展 | 频率范围下限可扩展至500Hz,必选6433P-204,与6433P-205不可同时选配 |
| 13 | 6433P-403 | 四端口低端扩展 | 频率范围下限可扩展至500Hz,必选6433P-400+6433P-404,与6433P-405不可同时选配 |
| 14 | 6433P-S05 | S参数信号完整性分析功能 | 用于分析系统的频域、时域TDR 和串扰等信号完整性特性,可自动将图形曲线转换成测试报告 |
| 15 | 6433P-S07 | 自动夹具移除功能 | 用于单端及平衡器件测量夹具自动测试及移除 |
| 16 | 6433P-S10 | 时域测量功能 | 用于时域测量,可确定器件、夹具或电缆中不连续位置并进行分析 |
| 17 | 6433P-S11 | 高级时域分析功能 | 用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等 |
| 18 | 6433P-S18 | 快速连续波扫描功能 | 使用FIFO 缓冲法,即时读取数据 |
| 19 | 6433P-S20 | 频偏测量功能 | 用于频率偏移测量 |
| 20 | 6433P-S22 | 混频器标量测量功能 | 用于混频器标量参数测量,必选6433P-S20 |
| 21 | 6433P-S24 | 嵌入式本振变频器测量功能 | 用于内嵌本振变频器测量,二端口必选6433P-204+6433P-S20, 四端口必选6433P-404+6433P-S20,必选6433P-S22或6433P-023 |
| 22 | 6433P-S26 | 增益压缩测量功能 | 用于放大器等有源器件的增益压缩测量 |
| 23 | 6433P-S28 | 相位扫描测量功能 | 用于相位扫描测量,必选6433P-400 |
| 24 | 6433P-S30 | 频谱分析功能 | 用于提供多通道频谱测试功能 |
| 25 | 6433P-EWT1 | 保修期以外延长保修1年 | 保修期以外延长保修1年,2年延保可选2项,以此类推,服务不含校准,仅含单程货品运费 |