-
6362C 光谱分析仪
◎ 光谱范围：350nm ~ 1200nm (6362C)
◎ 最小光谱分辨率：20pm
-
￥0.00￥0.00
-
◎ 光谱范围：350nm ~ 1200nm (6362C)
◎ 最小光谱分辨率：20pm
产品综述
6362C是一款高分辨、大动态高速高性能光谱分析仪 , 适用于350nm～1200nm光谱范围的DWDM等光系统测试 ; LED、FP-LD、DFB-LD等光有源器件测试 ; 光纤等光无源器件测试 .
主要特点
▶20pm最小光谱分辨率
▶350nm～1200nm光谱扫描范围
▶60dB大动态范围
▶支持空间光输入
▶强大的多应用光谱数据分析功能
▶12.1英寸触控显示、全中文操作
功能特点
20pm最小分辨率 6362C光谱分析仪支持不同光谱分辨率的设置 , 多种光谱分辨率设置灵活切换 , 最小光谱分辨率优于20pm |
|
| 光谱分辨率测试 | |
| 峰值检索 6362C光谱分析仪采用拥有自主知识产权的光谱自适应峰值检索算法 , 峰值检索准确度高 , 自适应性和鲁棒性强 , 且运算速度快 |
| 光谱峰值检索 | |
单纵模激光光谱分析 6362C光谱分析仪具备多场景光谱分析功能 , 针对DFB-LD等单纵模激光光源 , 仪器提供阈值分析和边模抑制比分析两种分析方法 , 有效准确的评估单纵模待测光源的中心波长、光谱带宽和边模抑制比 |
|
| DFB - LD 边模抑制比测试 | |
多纵模激光光谱分析 针对FP-LD等多纵模激光光源 , 6362C光谱分析仪提供ndB损耗分析、包络分析和均方根分析三种分析方法 , 多维度全面评估多纵模待测光源的中心波长和光谱带宽 | |
| |
| ndB损耗法测试中心波长和光谱带宽 包络分析法测试中心波长和光谱带宽 均方根分析法测试中心波长和光谱带宽 | |
多种光电子器件应用分析功能 6362C光谱分析仪可以对LED、FP-LD、DFB-LD、LD模块等各类型激光器进行一键测试与分析 , 实现所有测试项目批处理 . 仪器还集成了光纤偏振模色散测量应用、波分复用应用等光谱应用功能. | |
技术范围
| 型号 | 6362D光谱分析仪 |
| 波长范围 | 350nm~1200nm |
| 波长精度 | ±0.20 nm (全波长范围) |
| 波长分辨率设置 | 0.02nm、0.05nm、0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、2nm |
| 最小采样分辨率 | 0.001nm |
| 采样点数 | 101 ~ 50001、AUTO |
| 功率灵敏度设置 | NORMAL 、MID、HIGH1、HIGH2和HIGH3 |
| 功率灵敏度 | -60dBm（600nm~1000nm）(灵敏度：HIGH3) |
| 功率精度 | ±1.0dB(852nm , -20dBm ≤ 输入功率 ≤10dBm , 灵敏度：MID) |
| 动态范围 | 60dB（633nm , 峰值±0.5 nm , 分辨率0.02nm） |
| 适用光纤 | SM（9.5 / 125μm ）、GI（50 / 125μm 、62.5/ 125μm）、大芯径光纤（最大200μm ） |
| 显示 | 12.1英寸触摸屏 |
| 存储 | 128GB |
| 接口 | USB / 以太网 |
| 工作条件 | 环境温度：5°C~35°C；湿度：≤ 80%性能保证温度：18°C~28°C |
| 外形尺寸（W*H*D） | (426±4)nm x (221±2.5) nm x (450±4)nm |
| 重量（kg） | ≤23kg |
| 电源 | 100VAC ~240VAC、50Hz / 60Hz |
| 最大功率 | ≤100W |
| 预热时间 | 至少1h(预热后，需要外置光源进项波长校准.) |
注：可通过外置光源进行波长校准、光轴对准操作
主机型号
| 编号 | 名称 | 描述 |
| 6362C | 光谱分析仪 | 光谱范围350nm ~ 1200nm |
选件型号
| 序号 | 选件编号 | 选件名称 | 功能 |
| 1 | 6362C - H01 | 接口选件 | 含有GPIB接口、触发输入接口、触发输出接口 |
| 2 | 6362C - H02 | 英文选件 | 配置英文前后面板、英文操作系统 |
标配附件
| 序号 | 名称 | 数量 | 说明 |
| 1 | 电源线组件 | 1 | 标准三芯电源线 |
| 2 | 用户手册 | 1 | / |
| 3 | 产品合格证 | 1 | / |
